A-Si 特性
制程介绍
专利
 
 
 
制程介绍
 
 
APCVD沈积TO膜
APCVD:
常压化学气相沈积(Atmospheric Pressure CVD)。在常压下,以高温(400-600℃)提供能量进行CVD反应。
TO:
二氧化锡(Tin Oxide),透明导电氧化物的一种。在此作为前电极,因此高透光率为重要特性。
常用原料:
I gas(SiH4)、液氧、冷媒、SnCl4、氮气。
 
 
PECVD沈积a-Si膜
PECVD:
电浆辅助化学气相沈积(Plasma Enhanced CVD)。在真空下以电浆提供能量进行CVD反应,有助于降低反应温度(100-400℃)
A-Si:
非晶硅(Amorphous Silicon),为硅的一种形态,原子成混乱排列,但对光有较佳吸收率是其特点,在太阳能电池中为主要的发电层。
常用原料:
P ga、I gas、N gas、CH4、氢气、Ar
 
 
Sputter/metallizer沈积铝
Sputter:
溅镀,在两相对金属电极板之间制造电浆并加以电场,使电浆中的带能粒子撞击靶材表面进而撞出靶材原子,靶材原子经过传送最后沈积在基板表面。
Metallizer:
热蒸镀(Thermal evaporation),在真空下,将所要蒸镀的材料利用电阻加热使原子蒸发,进而到达并沈积在基材表面。
常用原料:
铝钉、铝靶材、Ar