| 制程介绍 |
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| APCVD沈积TO膜 |
| APCVD: |
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| 常压化学气相沈积(Atmospheric Pressure CVD)。在常压下,以高温(400-600℃)提供能量进行CVD反应。 |
| TO: |
| 二氧化锡(Tin Oxide),透明导电氧化物的一种。在此作为前电极,因此高透光率为重要特性。 |
| 常用原料: |
| I gas(SiH4)、液氧、冷媒、SnCl4、氮气。 |
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| PECVD沈积a-Si膜 |
| PECVD: |
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| 电浆辅助化学气相沈积(Plasma Enhanced CVD)。在真空下以电浆提供能量进行CVD反应,有助于降低反应温度(100-400℃) |
| A-Si: |
| 非晶硅(Amorphous Silicon),为硅的一种形态,原子成混乱排列,但对光有较佳吸收率是其特点,在太阳能电池中为主要的发电层。 |
| 常用原料: |
| P ga、I gas、N gas、CH4、氢气、Ar |
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| Sputter/metallizer沈积铝 |
| Sputter: |
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| 溅镀,在两相对金属电极板之间制造电浆并加以电场,使电浆中的带能粒子撞击靶材表面进而撞出靶材原子,靶材原子经过传送最后沈积在基板表面。 |
| Metallizer: |
| 热蒸镀(Thermal evaporation),在真空下,将所要蒸镀的材料利用电阻加热使原子蒸发,进而到达并沈积在基材表面。 |
| 常用原料: |
| 铝钉、铝靶材、Ar |
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