A-Si 特性
製程介紹
專利
 
 
 
製程介紹
 
 
APCVD沈積TO膜
APCVD:
常壓化學氣相沈積(Atmospheric Pressure CVD)。在常壓下,以高溫(400-600℃)提供能量進行CVD反應。
TO:
二氧化錫(Tin Oxide),透明導電氧化物的一種。在此作為前電極,因此高透光率為重要特性。
常用原料:
I gas(SiH4)、液氧、冷媒、SnCl4、氮氣。
 
 
PECVD沈積a-Si膜
PECVD:
電漿輔助化學氣相沈積(Plasma Enhanced CVD)。在真空下以電漿提供能量進行CVD反應,有助於降低反應溫度(100-400℃)
A-Si:
非晶矽(Amorphous Silicon),為矽的一種形態,原子成混亂排列,但對光有較佳吸收率是其特點,在太陽能電池中為主要的發電層。
常用原料:
P ga、I gas、N gas、CH4、氫氣、Ar
 
 
Sputter/metallizer沈積鋁
Sputter:
濺鍍,在兩相對金屬電極板之間製造電漿並加以電場,使電漿中的帶能粒子撞擊靶材表面進而撞出靶材原子,靶材原子經過傳送最後沈積在基板表面。
Metallizer:
熱蒸鍍(Thermal evaporation),在真空下,將所要蒸鍍的材料利用電阻加熱使原子蒸發,進而到達並沈積在基材表面。
常用原料:
鋁釘、鋁靶材、Ar