| 製程介紹 |
 |
| |
| |
| APCVD沈積TO膜 |
| APCVD: |
|
| 常壓化學氣相沈積(Atmospheric Pressure CVD)。在常壓下,以高溫(400-600℃)提供能量進行CVD反應。 |
| TO: |
| 二氧化錫(Tin Oxide),透明導電氧化物的一種。在此作為前電極,因此高透光率為重要特性。 |
| 常用原料: |
| I gas(SiH4)、液氧、冷媒、SnCl4、氮氣。 |
|
| |
| |
| PECVD沈積a-Si膜 |
| PECVD: |
|
| 電漿輔助化學氣相沈積(Plasma Enhanced CVD)。在真空下以電漿提供能量進行CVD反應,有助於降低反應溫度(100-400℃) |
| A-Si: |
| 非晶矽(Amorphous Silicon),為矽的一種形態,原子成混亂排列,但對光有較佳吸收率是其特點,在太陽能電池中為主要的發電層。 |
| 常用原料: |
| P ga、I gas、N gas、CH4、氫氣、Ar |
|
| |
| |
| Sputter/metallizer沈積鋁 |
| Sputter: |
|
| 濺鍍,在兩相對金屬電極板之間製造電漿並加以電場,使電漿中的帶能粒子撞擊靶材表面進而撞出靶材原子,靶材原子經過傳送最後沈積在基板表面。 |
| Metallizer: |
| 熱蒸鍍(Thermal evaporation),在真空下,將所要蒸鍍的材料利用電阻加熱使原子蒸發,進而到達並沈積在基材表面。 |
| 常用原料: |
| 鋁釘、鋁靶材、Ar |
|
| |
| |